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4月7日，15:00，可点击直播地址参加学习。

一般电子设备的失效，有55%是因为温度超过规定的温度值引起的，随着温度的增长，电子设备的失效率是呈指数增长的。工作温度每升高10℃，器件的寿命减半，因此散热条件成为器件质量的重要衡量指标。尤其对于功率半导体器件和大型集成电路等发热严重的器件，高效的散热条件成为使用寿命和可靠性要求的重要保证。因此散热是否良好，直接影响器件的寿命和可靠性，故而对热流路径上的热阻测量和检验成为保证器件性能的重要手段。西门子公司的T3Ster（Thermal Transient Tester，热瞬态测试仪）是一套可实现瞬态、稳态测试的热阻测试仪器，主要用于对分离或集成的双极型晶体管、常见的二极管、三极管、LED和半导体闸流管、大功率IGBT、MOSFET等半导体器件无损热瞬态及稳态测试。可用于结温、热阻测量、材料热特性测量、老化实验分析和封装缺陷诊断等。

北京海基嘉盛科技有限公司利用T3Ster设备对不同的集成电路和功率半导体设备、LED等器件的热流路径评估进行了分析，积攒了实际测试、分析的经验。可为用户提供测试设备采购、技术支持和测试评估等服务。

课程内容 

1. 常见热测试方法介绍

2. T3Ster设备、功能和用途介绍

3. 基于T3Ster 的测试方法介绍

课程日期

2022年4月7日周四下午15点

主讲人介绍

温工：硕士，1999年毕业于兰州铁道学院车辆工程专业，毕业后一直从事电子、电气产品设计工作，2020年入职海基科技负责T3Ster相关的测试工作。​

参与方式

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2、添加客服微信，加入技术交流群