【6月28日】T3ster印刷电路板或热接触材料热阻抗测试 - 研发埠教育

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6月28日 15:00，可点击直播地址参加学习。

课程背景

西门子公司的T3Ster（Thermal Transient Tester，热瞬态测试仪）是一套可实现瞬态、稳态测试的热阻测试仪器，主要用于对半导体器件进行无损热瞬态及稳态测试，通过特有的结构函数分析热流路径上的阻容分布，进而用于分析器件粘结层质量、焊料或胶的质量、热表面材料热特性测试、印制电路板热阻测试、器件老化实验分析和封装缺陷诊断等。

印制电路板和热表面材料均可视为热流路径上的一个环节，由结构函数表达为一级或几级阻容网络，量化对应的热阻数据，工程师通过数据分析和比较，进行优化选择。

近年来，海基科技利用T3Ster设备对不同的集成电路和功率半导体设备、LED等器件的热流路径评估进行了分析，积攒了实际测试、分析的经验。可为用户提供测试设备采购、技术支持和测试评估等服务。